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計測システム「EVA100」の新アナログ・モジュール「HF-AWGD」を発表【アドバンテスト】
2017年2月28日
㈱アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：吉田 芳明）は、計測システム「EVA100」の高分解能・高速アナログ・デバイス向け新モジュール「HF-AWGD（high-frequency arbitrary waveform generator and digitizer：高周波任意波形発生器およびデジタイザ）」を発表しました。これにより「EVA100」は、車載デバイスなど需要の伸長著しいアプリケーションも含めた、高精度アナログ／ミクスド・シグナルICの主要なパラメータを計測できます。
「HF-AWGD」は、デュアル・チャネル高速AWG（任意波形発生器）とデジタイザを搭載し、高速16ビットA-Dコンバータやオペアンプといった高精度デバイスの解析に最適なモジュールです。直感的操作が可能なグラフィック・ユーザ・インタフェースによるパターン・ジェネレータ機能も持ち、容易に信号を出力することが出来ます（波形パターンファイル不要）。AWGの高調波歪みは-102 dBと極めて低く、高精度の計測が可能です。さらに、大容量の波形サンプルが可能なキャプチャ・メモリや、広帯域かつ幅広い入力電圧レンジをカバーした波形デジタイザにより、高速かつ高精度のコンバータやベースバンド・デバイスの試験に対応します。
「EVA100」は、容易なセットアップやスピーディーなデバッグと検証機能により、これまで多くの製品の早期立ち上げに貢献してきました。今回、「HF-AWGD」を加えたことで、計測カバレッジが大きく広がりました。アナログ／デジタル両方の機能を併せ持ち、センサ、モバイル通信、パワー制御などの用途に今後高い需要が見込まれるスマートデバイスの測定に、「EVA100」は多種多様な先進的計測機能を提供します。また、「EVA100」はデバイスの設計用と生産用に同じテスト・シーケンスを用いており、ユーザーは開発から量産までの測定環境を一本化できます。異なるシステム同士のテストデータの相関づけに時間と労力を費やす必要も無く、デバイスのtime to marketを劇的に短縮します。
「HF-AWGD」は、すでに複数の顧客に出荷され、イメージ・センサやデータ・コンバータなどの計測に活用されています。
計測システム「EVA100」
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