スライドイン構造採⽤で実装基板検査の⽣産性を向上　インサーキットテスタFA1220-02 発売【日置電機】

2020年11月19日

インサーキットテスタFA1220-02

スライドイン構造で着脱が簡単に

HIOKI（日置電機株式会社：長野県上田市、代表取締役社長：細谷和俊）は「インサーキットテスタFA1220-02」を発売いたします。
　FA1220-02 は電子部品が実装された基板の良否判定を行うジグ方式・省スペースタイプの装置です。
　スライドイン構造を採用し、テストフィクスチャ※の着脱を簡単にしたことで実装基板の検査・生産の現場において作業工数の削減・作業者の負担を軽減し、生産性向上に寄与します。

※テストフィクスチャ：所定の検査ポイントに合わせて配置されたコンタクトプローブ（検査ピン）が埋め込まれた検査ジグ。

■ 開発の背景
　ジグ方式のインサーキットテスタは、プレス機構によって、上下に取り付けたテストフィクスチャの全プローブを検査基板に接触させて検査を行います。基板ごとに検査箇所が異なるため、検査する基板にあわせてテストフィクスチャを交換する必要があります。
　近年、実装基板の高性能・高密度化が進み、基板に搭載される部品点数が増え、それに伴い検査箇所も増加しています。そのため、多くのプローブが必要となり、テストフィクスチャが重量化しています。多品種少量生産の現場も多く、検査基板にあわせてテストフィクスチャを交換することは作業者にとって大きな負担になっていました。

■ 特長
1. スライドイン構造でテストフィクスチャの着脱が簡単に
　従来は、下側のテストフィクスチャを持ち上げて装置のフレーム内にはめ込み、その後上側のテストフィクスチャを装着して上下間を連結ケーブルで繋いでいました。
　FA1220-02 ではテストフィクスチャをセットしやすいよう開口部を広げられるスライドイン構造を採用しました。装置手前のカバーを倒して低い位置でセットできるため、作業者の負荷が軽減されます。