【メルマガAEG　PR】無料：技術資料、全自動SiC信頼性試験ソリューション

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公益社団法人自動車技術会：メルマガＡＥＧ【PR】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2018年8月21日発行

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人気のセミナーの技術資料を無料公開！
「SiC MOSFETの大電流通電による特性劣化」

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電気自動車やパワエレ機器の高性能化に伴い、SiCパワーデバイスの
採用が加速しています。SiCモジュールの製品化にあたって、
SiC MOSFETの通電試験による信頼性の検証が不可欠です。
しかし、従来の試験システムでは、大電流の通電とVth, Von等の
デバイス特性の評価が別システムとなっており、試料の移動の手間、
手動での測定操作、データ処理に多大な時間が必要でした。
また、通電中のジャンクション温度(Tj)もコントロールできず、
劣化原因の究明も困難でした。

Keysightの全自動SiC信頼性試験ソリューションは
「通電」 ⇔ 「デバイス特性評価」一体の完全自動化システムであり、
また、通電中のジャンクション温度(Tj)を一定に保つことができます。
このソリューションにより、信頼性評価を効率化し、デバイス劣化の
原因究明をはかり、製品の市場投入を加速できます。

【SiC全自動信頼性試験システム導入のメリット】
　「通電」 ⇔ 「Vth, Von測定」一体の完全自動化システム

　・通電・測定のシステム間の移動にかかる時間を削減
　・エンジニアの介在をなくし、本来の開発業務に専念かつ人的コストを削減
　・手動測定による測定のばらつき・ミスを排除
　・並列測定によりN数を確保し、信頼性評価の効率を改善

詳細情報の資料をダウンロードしてご覧ください。
https://connectlp.keysight.com/APM-JPN-Automotive-Solution-Mail_SiC_LP?cmpid=56001&mcr=true


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