ｲﾍﾞﾝﾄ ｾﾐﾅｰ情報

Keysight World Online 電子デバイスコースのお申込み【キーサイト・テクノロジー】

　 


電子デバイスの概要
本コースでは電子デバイスを使用するエンジニアのみなさまに、IV(電圧-電流)、CV(容量-電圧)測定などデバイス評価の基礎、更に、現在特にお問い合わせの多いハイパワーデバイスの基礎知識や評価方法などを中心に、インターネットのライブ配信によってお届けするセミナーです。

お申込み方法
受講したいセミナーを選択していただき、ログインID(メールアドレス)、パスワードを入力していただくとセミナーの詳細をご覧いただけます（新規のお客様は事前登録が必要です）。

接続が肝心　パワーデバイスの容量測定

日　付 2018年1月25日（木）
時　間 9:30-10:20（50分）
セミナー番号 E1801251
対象者 GaN、SiCなど次世代パワー半導体の開発や、それを用いたモジュール･機器
（自動車、産業機器、サーバー機器、大容量電源）の設計･開発に携われるエンジニア
アブスト ゲート絶縁膜の界面準位評価など物性評価やパッケージ品の端子容量評価など、容量測定はパワーデバイスのロス低減に向けた評価に不可欠です。
一方、DC測定とは勝手が違う容量測定手法について悩まれるのが実情です。
本セミナーでは、長年の容量測定の経験に基づき、パワーデバイスの容量測定の勘所を紹介します。

SW回路構築前の選別が可能　寄生L評価

日　付 2018年1月25日（木）
時　間 10:50-11:10（20分）
セミナー番号 E1801252
対象者 GaN、SiCなど次世代パワー半導体の開発や、それを用いたモジュール･機器
（自動車、産業機器、サーバー機器、大容量電源）の設計･開発に携われるエンジニア
アブスト 電力変換回路のスイッチングの高速化に伴い、サージの増大が課題となっています。ここではサージの要因となる寄生Lの評価手法を紹介します。

最新オシロで変わる　パワーデバイス波形観測

日　付 2018年1月25日（木）
時　間 11:40-12:00（20分）
セミナー番号 E1801253
対象者 オシロスコープによるパワーデバイスの評価について、基本的なことから知識を深めたいとお考えのエンジニア
アブスト サージ波形、ノイズ波形を正確に観測することが、次世代パワーデバイス回路の最適化に重要です。最新のオシロスコープによる波形測定を紹介します。

シミュレーションを活用したパワエレ高速スイッチング回路設計

日　付 2018年1月26日（金）
時　間 9:30-10:30（60分）
セミナー番号 E1801261
対象者 GaN、SiCなど次世代パワー半導体の開発や、それを用いたモジュール･機器
（自動車、産業機器、サーバー機器、大容量電源）の設計･開発に携われるエンジニア
アブスト 電力変換回路の効率化、小型化の実現に向け、高速スイッチング可能なSiC、GaNなど新デバイスの採用が加速しています。
高速スイッチングは、サージによる誤動作、デバイス破壊、EMIなどの問題を引き起こし、回路設計の障害となります。
シミュレーションの活用で、開発期間・コストを削減することが求められますが、「パワエレの回路シミュレーションは合わない」との多くの声を耳にします。
本セミナーでは、なぜシミュレーションが合わないかをお話しし、効率的な回路設計を行う手法をご紹介します。

実測と合う！　パワーデバイスのモデリング

日　付 2018年1月26日（金）
時　間 11:00-11:25（25分）
セミナー番号 E1801262
対象者 GaN、SiCなど次世代パワー半導体の開発や、それを用いたモジュール･機器
（自動車、産業機器、サーバー機器、大容量電源）の設計･開発に携われるエンジニア
アブスト 「パワー半導体のデバイスモデルは合わない」と思っていませんか？　正確な特性データとモデルを用いれば、実測と合うデバイスモデルが作成できます。