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従来の100倍となる1.8MS/秒のサンプリングレートを備えたNI PXIe-4139システムソースメジャーユニット（SMU）を発表【日本ナショナルインスツルメンツ】
2014年3月26日
● NI PXIe-4139は、従来のシステムソースメジャーユニットの100倍となる1.8 MS/秒のサンプリングレート、同様のスタンドアロン計測器の約2倍のチャンネル密度を備えています。
● あらゆる負荷に対してカスタム調整し、最大の安定性と最短の過渡応答時間を実現するNI Source Adapt技術を採用した製品です。
日本ナショナルインスツルメンツ㈱（本社：東京都港区、代表取締役：池田亮太、以下日本NI）は3月26日、NI PXIe-4139システムソースメジャーユニット（SMU）を発表いたします。本製品の発売により、NIのSMUラインアップに新たに高性能バージョンが加わったことになります。本SMUを使用することにより、半導体や自動車、家庭用電化製品など、あらゆる業界においてテストにかかるコストを削減し、市場投入までの時間を短縮することが可能になります。
NI PXIe-4139 SMUには、NI SourceAdapt技術が採用されており、SMU制御ループをカスタマイズすることで、いかなる負荷にも最適なシステム応答を実現することが可能です。この技術により、テスト対象デバイスは保護され、システムの安定性が向上します。さらに、1.8MS/秒での計測が可能であり、このサンプリングレートは従来のSMUの100倍に値します。そのため、テスト時間の短縮と、外部にオシロスコープなどを用意しなくてもデバイスの過渡的挙動をとらえることが可能になります。
■製品の特長
● 100fAの電流計測感度
高性能な半導体デバイスを正確に特性評価
● 1.8MS/秒のサンプリングレート
外部スコープなしでデバイスの過渡特性を集録
● 4U 19インチラックに最大17個のSMUチャンネルを収容
多チャンネルシステムのテストシステム設置面積を最小化
● SourceAdapt技術
過渡応答時間を短縮することによって全体のテスト時間が短縮され、高い誘導負荷または容量性負荷がかかってもオーバーシュートや振動からテスト対象デバイスを保護することが可能
● 500Wのパルス電力で最大10Aまでパルス範囲拡張可能
PMIなどの評価を1台のにて行うことができ、テスト時間の短縮が可能
東芝マイクロエレクトニクス㈱ アナログシステムLSI統括部アナログシステム 参事 松岡 彰氏
NI PXIe-4139システムソースメジャーユニットを用いることで、オーバーシュートやアンダーシュートの少ない、ほぼ理想的な高出力定電流パルスが可能となります。その結果、アナログシステムLSIの評価・テストにおいて、精度を保ちつつ、定電流パルスによる測定を従来の1/5に短縮できました。電圧印加においても立ち上がり時間が、以前よりも50倍速くなったため、測定安定のために費やしていたチューニング時間を約30％短縮することができ、評価環境構築の短TAT化を実現しました。
■関連情報
● NI SMUデバイスの詳細
www.ni.com/smu
● NI PXIe-4139 SMUの仕様と価格
http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ja/nid/212038
日本ナショナルインスツルメンツについて
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（www.ni.com/jp）は、1976年以来、生産性を高めイノベーションを後押しするツールを世界中のエンジニアに提供してきた米国ナショナルインスツルメンツの日本法人です。NIの「グラフィカルシステム開発」手法は、統合されたソフトウェア/ハードウェアプラットフォームを導入することで、計測・制御機能を必要とするあらゆるシステムの開発を迅速化します。技術によってよりよい社会を目指すというNIの姿勢と長期的ビジョンは、顧客や取引先、従業員の成功にも貢献しています。
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