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デンソーが車載系ミクスド・シグナル・デバイスの評価・量産向けに「T2000」を導入開始【アドバンテスト】
2014年1月14日
㈱アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：松野晴夫）の「T2000」テスト・システムの車載向け測定ソリューション（Integrated Power Device Test Solution、以下IPS）が、この度㈱デンソー様に導入されました。デンソー様では、各種自動車に搭載される制御系、駆動系、センサー系などさまざまなミクスド・シグナル・デバイスに対する評価および量産用途として「T2000」IPSが活用されます。
現在、省燃費技術の発達やCO2削減に関する技術の高度化、さらには先進安全技術に関する新しいシステムの開発など、自動車業界での半導体部品のニーズがさらに多様化し、生産量も拡大傾向にあります。車載用デバイスのメーカ、ユーザ各社では、開発工期の短縮、短期での量産立ち上げ、かつ少ない投資での生産拡大が可能なテスト環境を求められています。さらに、SOI-BCDプロセス（*）を用いたミクスド・デバイスを測定するため、アナログの高精度測定技術に加えて今後高速化するデジタル・インターフェースへの要求も同時に満たす必要があります。
当社の優れた独自性で高いテスト品質を確保しながら、多種多様な車載向けミクスド・シグナル・デバイスに対応し、かつ多数ピンデバイスの複数個同時測定、テスト時間の短縮、デバイス開発の工期短縮を提供するテスト・ソリューションとして、「T2000」を導入いただきました。
㈱デンソー 常務役員 デバイス事業部担当 加藤 之啓様からは、「『T2000』IPSは、高速化がますます進むデバイスのインタフェースをはじめ、高電圧/高精度のアナログ測定など幅広くカバーし、生産性向上に役立っています。」とコメントをいただきました。
「T2000」には、車載関連デバイスやパワー・マネジメントIC、パワー・スイッチ系デバイスに最適なIPSというテスト・ソリューションが準備されております。各種測定リソースを1モジュールに集約し、周辺回路を最小限に抑える事で、業界最多クラスの同時測定個数を実現しました。また、独自回路技術の採用により待ち時間を従来システム比で大幅に短縮したほか、T2000プラットフォームの高信頼性、高電圧、高精度測定への対応など、必要とされる要素すべてを1つのテスト・システムとして高次元に実現しています。
このたび自動車部品業界のリーディング・カンパニーであるデンソー様に採用いただけた事は、当社テスト・ソリューションの特長である多種多様な機能、システム拡張性の高さ、テスト・コスト削減などのメリットが評価されたものと考えております。
*SOI-BCDプロセス
SOI （Silicon on Insulator） プロセスは、従来のMOSFETでの寄生ダイオードなどでの浮遊容量によるスイッチング遅延や電流を抑え、高速性・低消費電力を進めるプロセス技術。
BCD（Bipolar CMOS DMOS）プロセスは、CMOSによる高速ロジック、Bipolarによるアナログ回路、DMOSによるパワー素子の各プロセスマスクを加えたもの。
いずれもデジタル・アナログ混在デバイスで多く用いられ、高速デジタル測定と高精度アナログ測定ならびにハイパワー測定が求められる。
㈱デンソーについて
先進的な自動車技術、システム、製品を世界の主要な自動車製造会社すべてに提供している世界でもトップレベルの自動車部品サプライヤー。営業・設計・生産などあらゆる部門で世界30以上の国と地域で事業を展開している。
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