電気自動車と太陽光発電向け次世代パワー半導体の総合評価サービスを開始【OKI】

2013年10月31日

ワンストップサービスでインバータユニット開発を支援

OKIグループの信頼性評価と環境保全の技術サービスを展開するOKIエンジニアリング（社長：浅井　裕、本社：東京都練馬区、以下OEG）は、このたび、新たに次世代パワー半導体（注1）の電気的特性が測定可能な測定器を導入し、11月1日より「次世代パワー半導体総合評価サービス」を提供開始します。業界では初めて電気自動車（EV）や太陽光発電装置などのインバータユニット（注2）に用いられる次世代パワー半導体の電気的特性、熱過渡特性（注3）測定、構造解析などの総合評価をワンストップで提供可能とし、お客様の商品開発に寄与します。

最近、開発が進んでいるSiC（シリコンカーバイド／炭化珪素）、GaN（ガリウムナイトライド／窒化ガリウム）などの次世代パワー半導体は、従来のSi（シリコン）半導体に比べ電力損失が少ないため、電気自動車や太陽光発電装置のインバータの他、様々な家電製品の電力制御部などへの利用が期待されています。しかし、市場投入のための評価試験には、ON抵抗（注4）、耐圧など電気的特性測定の他、熱過渡特性や各種の信頼性試験用に高価な測定装置が必要で、多くの企業にとっては自社で取り揃えるのは困難です。

OEGは、今回次世代パワー半導体の電気的特性を測定できる測定器を導入し、ON抵抗、耐圧など次世代パワー半導体の評価に必要な特性項目の測定を可能としました。それに加え、熱過渡特性測定、構造解析なども合わせて評価する総合評価サービスを受託試験業界として初めて提供開始します。本サービスを利用することにより、自社で設備・人的投資をすることなく、効率よく各種の評価試験を実施することができます。

OEGは本サービスを通して、電気自動車用パワーモジュールのメーカーなど、次世代パワー半導体ユーザーのパワーモジュール開発、設計、品質確保を支援します。

サービスの特長

■ ON抵抗、耐圧、容量など電気的特性の測定評価
■ 高温寿命試験、熱衝撃試験など一般的信頼性試験の他、パワーサイクル試験など特殊試験も実施
■ パワー半導体において重要な「熱過渡特性」の測定評価
■ X線CT、断面構造観察などによる構造解析（良品解析）の実施

販売計画

標準価格：個別見積り
販売目標： 2015年度まで5,000万円
サービス提供開始時期： 2013年11月1日

用語解説

注1 ：次世代パワー半導体
SiC（シリコンカーバイド／炭化珪素）、GaN（ガリウムナイトライド／窒化ガリウム）といった材料を基板に用いるダイオード、FET（電界効果トランジスタ）で従来のSi（シリコン）を用いるデバイスに比べON抵抗が小さく動作速度が速いため電力損失を小さくできる。また高温動作が可能なことも特長であり、各種の電力制御回路への応用が期待されている。

注2 ：インバータユニット
直流電力から交流電力へ変換する電源回路。たとえば電気自動車ではバッテリーの直流電力をモーター駆動用に交流電力に変換する。

注3 ：熱過渡特性
半導体パッケージにおいて熱の伝わりやすさを表す指標。

注4 ： ON抵抗
半導体の基本動作としてON（電流導通）とOFF（電流遮断）がありON抵抗は導通状態における特性値で小さいほど損失が少ない。