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自動テストの展望：2011（2011 Automated Test Outlook）を発表【日本ナショナルインスツルメンツ】
エレクトロニクス業界に影響をもたらす次世代テスト・計測動向について詳細に解説
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（本社：東京都港区、代表取締役：池田亮太、以下日本NI）は本日、「自動テストの展望：2011（2011 Automated Test Outlook）」について発表します。同サイトには、今日のテスト／計測アプリケーションを形作っているイノベーションとテクノロジについてナショナルインスツルメンツが詳しく調査した結果が記されています。
本レポートは、家庭用電化製品、自動車、半導体、航空宇宙、医療機器、通信など多岐にわたる業界を取り上げています。
ここで紹介されている洞察から、技術者や経営者は様々なテスト組織の最適化に向けて最新のビジネス戦略や最善策を打ち出すことができます。
「自動テストの展望：2011」は、教育界や産業界における研究結果、ユーザコミュニティや顧客調査、およびビジネスインテリジェンスや顧客諮問委員会の報告に基づいたものです。そのようなデータをもとに、同サイトではテスト・計測分野における経営・技術両面での難題に対処するための次世代動向について幅広く紹介しています。また、本 レポートは、ビジネス戦略、アーキテクチャ、コンピューティング、ソフトウェア、およびI/Oの5つのカテゴリに分かれています。
今回の2011年版では、主に以下の内容について解説しています。
●組織的なテストインテグレーション： 検証と製造テストを統合する場合、基本方針や工程、人材、技術などの変更点に重点を置く必要があること
●システムソフトウェアスタック： 統合性の高いソフトウェアフレームワークで、計測機能を追加しテスト時間を短縮できる柔軟性に優れたシステムアーキテクチャを実現できること
●異種コンピューティング：厳しさを増す解析・処理要件に対処するため、今後のテストシステムは様々なタイプの処理ノードを備えることが必須となること
●IP to the Pin： FPGAのIP（Intellectual Property）を設計とテストの間で共有することで、設計の確認と検証にかかる時間を劇的に短縮し、製造テストの速度と故障検出率の向上が可能となること
「自動テストの展望：2011」は、www.ni.com/ato/jaでご覧いただけます。
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