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メンターのTessent VersaPointテストポイント技術、ルネサス エレクトロニクスのコスト削減と品質向上を支援【メンター・グラフィックス・ジャパン】
2017年11月14日
メンターが、製造テストにかかるコストを削減しつつインシステムテストの品質を向上させるTessent VersaPointを発表し、同テストポイント技術をルネサス エレクトロニクスが採用。
メンター，シーメンス・ビジネス（以下メンター）は、ISO 26262準拠認定済みのTessent® ScanProおよびTessent LogicBISTにおいて、Tessent VersaPoint™テストポイント技術が利用可能となったことを発表しました。Tessent VersaPointテストポイント技術は、製造テストにかかるコストを削減するとともに、インシステムテストの品質を向上させます。両者は、自動車産業をはじめとする業界で信頼性の高いICを提供するうえで欠かせない要件です。メンターはまた、ルネサス エレクトロニクス（以下ルネサス）がセーフティクリティカルなテスト要件を満たし、Automotive Safety Integrity Level C（ASIL C）およびASIL D認定を達成するために、同社の車載LSIにTessent VersaPointを採用したことも発表しました。
車載LSIのデジタル回路では、通常、オンチップ圧縮／ATPGとロジックBIST（LBIST: Logic Built-In Self-Test）技術を組み合わせ、製造テストにおける非常に高い故障カバレッジを達成するとともに、インシステムテストおよび電源投入時自己診断テスト（POST: Power-On Self-Test）を実現します。
テストポイントは、テスト結果の向上を図る専用デザイン構造です。従来のLBISTテストポイントは、「ランダムパターンでは検出困難な」IC故障に対応することで結果を向上させてきました。メンターが最近開発したオンチップ圧縮／ATPGに特化したテストポイントは、オンチップ圧縮のみで達成した場合よりATPGパターンを1/2から1/4以下に削減させます。Tessent VersaPointのテストポイント技術は、こうしたさまざまな技術を組み合わせて、改良を重ねて築き上げたものです。
「業界をリードする車載LSIを提供するために、ルネサスではテストポイントを使用して高品質なICテストを実現しています。Tessent VersaPointテストポイント技術を採用したことで、ICタイプごとに別々のソリューションを使用する必要がなくなり、結果として製造テストだけでなくインシステムテストにおいても品質の向上とコストの削減を達成できました。また、最新のDFT（Design For Test: テスト容易化設計）実装フローにより、開発サイクルとTime-to-Marketの短縮を実現しました。」ルネサス、オートモーティブソリューション事業本部 車載SoC事業統括部、統括部長、 伊東 久範氏は、上記のように述べています。
Tessent VersaPointを用いると、従来のLBISTテストポイント使用時と比べより高いLBISTテストカバレッジを達成でき、オンチップ圧縮／ATPGテストポイントを使用した場合よりもATPGパターン数を低減できます。この技術は、Tessent Hybrid ATPG/LBISTを使用しているテストエンジニアが、特に車載アプリケーション向けLSIのテストにかかるコストと品質を改善することを目的に開発されました。
「設計サイズが増大し、品質要件が厳しくなるにつれて、顧客は増大するテストにかかるコストを削減する必要性が高くなってきました。一方で、信頼性の高いアプリケーションで効率的なインシステムテストを実行する必要性も高まっています。Tessent VersaPointのテストポイント技術によって、顧客は製造テストとインシステムテストのどちらの要件も満たす、より効果的な方法を得ることになります。」メンター、Director of Marketing for the Tessent Product Family、Brady Benwareは、上記のように述べています。
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