ラボ用X線回折式残留応力測定システム

概要

プロトLXRD装置はこれまでに無い高速/高精度なエックス線残留応力装置でプサイ角に左右対象に配置した高感度512ch アレイディテクタ2基で常に2角度同時測定を行い1測定あたり3～5分を実現、従来の測定時間の半分以下で応力／せん断応力値を同時測定します。またこの高速測定を生かしティーチング機能を利用しての応力マップ（多点測定）の作成が可能となりこれまで一点測定だけの応力値評価から応力分布での評価が可能になりデータの情報量／信頼性が大きく変わりまた、応力マップ測定がプロトにより実用的なレベルとなりました。

特徴

豊富なオプション
・各種サイズ／ターゲットのX線管球（Cr,Cu,Co,Fe,Mn,Mo,Ti,V,W等）を用意
・ティーチング機能及び強力な3D表示ソフト付応力マップ測定が可能
・各種ゴニオメーター
・各種サイズの防X線保護筐体（インターロック付3面透明ドアー）
・各種材質の応力標準試験片　（低応力及び既知の高応力試験片）

なお測定頻度の少ないお客様のために受託測定も承っておりますので点数に関わらずお問合せください。