xEV 次世代インバータと計測技術の最前線「名古屋大学 山本 真義教授 x テクトロニクス」オンライン開催セミナ

　xEV　

xEV 次世代インバータと求められる計測技術
xEV 最新技術トレンドを紹介し、次世代インバータと求められる計測技術を解説します。実際に分解したインバータをご覧頂きながら、実機解説を行います。
【詳細情報は近日中に公開予定】

名古屋大学 山本　真義 先生 未来材料・システム研究所 附属 未来エレクトロニクス集積研究センター システム応用部 教授

　GaN/SiC　

カーボン・ニュートラルに必須のGaN/SiC によるスイッチング電源評価と三相モータ・ドライブ測定
今見えている GaN/SiC の波形は真実ですか？回路にプロービングするとデバイスが壊れたという経験はないですか？ 本セミナでは、カーボン・ニュートラルに必須の GaN/SiCによるスイッチング電源評価の課題と解決方法を紹介します。併せて、オシロスコープによる三相モータ・ドライブ・システムのパワー、効率、制御の安定性、ノイズの評価方法について紹介します。

【アジェンダ】
1.今見えている GaN、SiC の波形は真実ですか？
　•高 CMRR かつ広帯域プローブによる GaN、SiC の波形測定
　•ワイド・バンドギャップ測定向けのダブル・パルス・テスト
2.IMDA による三相モータ・ドライブ・システム測定
　•放射ノイズの時間相関解析によるノイズ発生源の特定
　•DQ0 解析を用いたモーター制御の評価
　•メカニカル解析
3. まとめ

テクトロニクス 池田 一樹 アプリケーション・エンジニア