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計測システム「EVA100」の新アナログ・モジュール「HF-AWGD」を発表【アドバンテスト】

2017年2月28日

㈱アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、計測システム「EVA100」の高分解能・高速アナログ・デバイス向け新モジュール「HF-AWGD(high-frequency arbitrary waveform generator and digitizer:高周波任意波形発生器およびデジタイザ)」を発表しました。これにより「EVA100」は、車載デバイスなど需要の伸長著しいアプリケーションも含めた、高精度アナログ/ミクスド・シグナルICの主要なパラメータを計測できます。

「HF-AWGD」は、デュアル・チャネル高速AWG(任意波形発生器)とデジタイザを搭載し、高速16ビットA-Dコンバータやオペアンプといった高精度デバイスの解析に最適なモジュールです。直感的操作が可能なグラフィック・ユーザ・インタフェースによるパターン・ジェネレータ機能も持ち、容易に信号を出力することが出来ます(波形パターンファイル不要)。AWGの高調波歪みは-102 dBと極めて低く、高精度の計測が可能です。さらに、大容量の波形サンプルが可能なキャプチャ・メモリや、広帯域かつ幅広い入力電圧レンジをカバーした波形デジタイザにより、高速かつ高精度のコンバータやベースバンド・デバイスの試験に対応します。

「EVA100」は、容易なセットアップやスピーディーなデバッグと検証機能により、これまで多くの製品の早期立ち上げに貢献してきました。今回、「HF-AWGD」を加えたことで、計測カバレッジが大きく広がりました。アナログ/デジタル両方の機能を併せ持ち、センサ、モバイル通信、パワー制御などの用途に今後高い需要が見込まれるスマートデバイスの測定に、「EVA100」は多種多様な先進的計測機能を提供します。また、「EVA100」はデバイスの設計用と生産用に同じテスト・シーケンスを用いており、ユーザーは開発から量産までの測定環境を一本化できます。異なるシステム同士のテストデータの相関づけに時間と労力を費やす必要も無く、デバイスのtime to marketを劇的に短縮します。

「HF-AWGD」は、すでに複数の顧客に出荷され、イメージ・センサやデータ・コンバータなどの計測に活用されています。


計測システム「EVA100」


※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。








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