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通信型ドライブレコーダー「TMX-DM03A-VA」が アクシス社のクラウド型車両運行管理サービス「KITARO×ドラレコ」に採用【パイオニア】

2021年11月10日    パイオニアの通信型ドライブレコーダー「TMX-DM03A-VA」が アクシス社のクラウド型車両     パイオニアの通信型ドライブレコーダー「TMX-DM03A-VA」が、株式会社アクシス(本社:東京都港区、代表取締役:小倉博文、以下「アクシス」)が提供するクラウド型車...

「ビークルアシスト」対応の通信型ドライブレコーダーに「事故リスク低減」機能を搭載した新機種を追加【パイオニア】

2021年7月1日    「ビークルアシスト」対応の通信型ドライブレコーダーに 「事故リスク低減」機能を搭載した新機種を追加 ~ドライバーの眠気やわき見、あおり運転とみなされる運転時に注意喚起~    商品名  : 通信型ドライブレコーダー 発売時期 : 7月中旬 ...

計測データを遠隔モニタリング 「AirLogger™ Cloud Lite」のサービスを開始【アドバンテスト】

2019年10月30日 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区社長:吉田芳明)は、無線データロガー「AirLogger™」シリーズの新ソリューションとして、遠隔モニタリングシステム「AirLogger™CloudLite(エアーロガークラウドライト)」のサービスを開始します。これは、従来の無線温度ロガー「AirLogger™WM1000」お...

テスト・システム「T2000」の車載 SoC 向け新製品を発表【アドバンテスト】

2019年10月15日 テスト・システム「T2000」の車載 SoC 向け新製品を発表多数個同時測定とコストに優れたテスト機能で、車載 SoC 市場の成長をサポート 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、スト・システム「T2000」の車載デバイス・テスト・ソリューションとして、新たに「RND520」テス...

コードが消えた! 小さなボディのフレキシブルな無線データロガー「AirLoggerTM」に 待望の「3ch動ひずみ測定ユニット」登場【アドバンテスト】

2019年5月9日 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、無線データロガー 「AirLoggerTM WM2000」シリーズの新製品として、「3ch 動ひずみ測定ユニット」の販売を開始します。この新製品は、従来品の「温度/電圧測定ユニット」「ひずみ測定ユニット」に加え、動ひずみやロードセルの計測に対...

パイクスピーク用 リチウムイオンバッテリー温度管理システムの提供【サンデン・アドバンストテクノロジー】

2019年4月16日 ※画像はCGです。実際の車両とは異なる場合があります。                               <SAMURAI SPEED NISSAN LEAF e+ Pikes Peak Challenger>               <Lib温度管理システム>  サンデン・アドバンストテクノロジー株式会社(代表取締役...

小さなボディのフレキシブルな無線データロガー「AirLogger™」WM2000シリーズの海外対応がさらに拡大【アドバンテスト】

2019年2月18日 小さなボディのフレキシブルな無線データロガー「AirLogger™」WM2000シリーズの海外対応がさらに拡大中国、ベトナムに続き米国、EU、タイでも 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、無線データロガー「AirLogger™」WM2000シリーズの海外対応をさらに拡大します。2019年1月...

小さなボディのフレキシブルな無線データロガー 「AirLoggerTM」シリーズの海外対応を拡充 【アドバンテスト】

2017年4月26日 小さなボディのフレキシブルな無線データロガー「AirLoggerTM」シリーズの海外対応を拡充 ―中国、ベトナムで利用可能に― 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、無線データロガー 「AirLoggerTM」シリーズの海外対応を拡充します。これまで、海外対応は無線温度ロガー 「AirL...

測定スループット 従来機種比2倍、フォトマスク用MVM-SEM「E3650」を発表【アドバンテスト】

2018年11月29日 測定スループット 従来機種比2倍、フォトマスク用MVM-SEM「E3650」を発表 Products 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 代表取締役 兼 執行役員社長:吉田 芳明)(以下当社)は、最新MASK MVM-SEM(Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope: 多次元観察・測長走査型電子顕微...

次世代超高速DRAM用テスト・システム「T5503HS2」を発表【アドバンテスト】

2018年4月4日 DDR5、LPDDR5を試験可能な業界唯一のテスト・システム 株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、次世代の超高速DRAMを試験可能なテスト・システム「T5503HS2」を発表しました。 メモリ半導体市場は、モバイル機器やサーバの力強い需要に支えられ、従来のシリコンサイクルを...