「#表面検査」の検索結果

新製品 ： SiCウェハ欠陥検査/レビュー装置「WASAVIシリーズSICA88」を発表【レーザーテック】

2015年9月24日 レーザーテック㈱は、このほど表面検査およびフォトルミネッセンス（PL）検査の両方を備え、SiCウェハの表面と内部の欠陥を検出、高精度分類まで同時 に行えるSiCウェハ欠陥検査/レビュー装置SICA88を製品化いたしました。すでに受注活動を開始し、ローム㈱様を始めとし、複数社での採用が決定し てお...

1μm精度の表面品質計測をわずか1分で終了 非接触式3次元平面計測システム　販売開始【丸紅情報システムズ】

2012年10月3日 1μm精度の表面品質計測をわずか1分で終了非接触式3次元平面計測システム　販売開始 今まで実現できなかった全平面状態の計測が容易に 丸紅情報システムズ㈱（略称：エムシス/MSYS、本社：渋谷区渋谷3-12-18、社長 　小川 　和夫）は、半導体、自動車、バイオなどの産業向け検査システムメーカーである米...

走査型プローブ顕微鏡像シミュレーションソフトの実用化に成功【科学技術振興機構】

2012年5月21日 ポイント ○ 走査型プローブ顕微鏡（SPM）は、ナノ領域では複雑な物理現象が起きて観測に影響する○ SPMの実験画像では得ることの難しい試料表面の物性値に関して、シミュレーションにより推定するソフトウェアを開発○ 開発したソフトウェアは市販パソコン上で動作し、簡単なマウス操作で出入力や画像解析...

電子部品の外観検査に最適な卓上検査装置 「3D-Eye スキャナー計測検査モデル」発売【日本エフ・エーシステム】

2012年3月6日 日本エフ・エーシステム㈱（本社：東京都品川区、代表取締役社長：小國勇）は、2012年3月上旬、卓上型3D形状計測装置「3D-Eyeスキャナー計測検査モデル」を発売します。 「3D-Eyeスキャナー」は、部品の3次元形状測定を行うための簡易型卓上計測装置です。光切断法に基づき、幅の広いレーザ光源でワークを...

光学式ピンホール検査ユニット「C12190シリーズ」を新発売【浜松ホトニクス】

2012年2月21日 アルミラミネートフィルムや金属箔のピンホール検査向け生産ラインに後付け可能で、省スペース、安価、ワイドレンジな光学式ピンホール検査ユニット「C12190シリーズ」を新発売 当社は、生産ラインに後付け可能で、省スペース、安価、ワイドレンジな光学式ピンホール検査ユニットの新製品「C12190シリ...

走査型プローブ顕微鏡の新ステーション2モデルを発売【エスアイアイ・ナノテクノロジー】

2012年2月1日 SIIナノテク、走査型プローブ顕微鏡の新ステーション2モデルを発売測定パラメーター自動調整機能「RealTune」を搭載 セイコーインスツル㈱（略称：SII、社長：新保雅文、本社：千葉県千葉市）の100％子会社で、計測分析装置の製造販売を行っているエスアイアイ・ナノテクノロジー㈱（略称：SIIナノテク、...

自動車用鋼板にも、新表面欠陥検出装置「MSC9000」を開発、販売【アルバック】

2011年9月29日 コイルセンター、コンバーティング業界向け新表面欠陥検出装置「MSC9000」を開発、販売 アルバックグループの制御装置メーカーである日本リライアンス株式会社（本社 神奈川県横浜市、社長 石崎淳一）は、当社の持つラインドライブアプリケーションから得た制御技術と、アプリケーション設計から得たユ...