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電子部品の外観検査に最適な卓上検査装置 「3D-Eye スキャナー計測検査モデル」発売【日本エフ・エーシステム】

2012年3月6日 日本エフ・エーシステム㈱（本社：東京都品川区、代表取締役社長：小國勇）は、2012年3月上旬、卓上型3D形状計測装置「3D-Eyeスキャナー計測検査モデル」を発売します。 「3D-Eyeスキャナー」は、部品の3次元形状測定を行うための簡易型卓上計測装置です。光切断法に基づき、幅の広いレーザ光源でワークを...