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Mentor Forum 2018 – Mentor Safe ～業界唯一のアナログFault Simulatorを含む機能安全ソリューション～【メンター・グラフィックス・ジャパン】
Mentor Forum 2018 – Mentor Safe
～業界唯一のアナログFault Simulatorを含む機能安全ソリューション～
イベント情報
| 名古屋会場 | |
| 開催日 : |
2018/9/26（水）
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| 開催時間 : | 13:30～18:00（受付開始13:00） |
| 会場 : |
メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
名古屋支店 セミナールーム 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ 11F 案内図 |
| 品川会場 | |
| 開催日 : |
2018/9/28（金）
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| 開催時間 : | 13:30～18:00（受付開始13:00） |
| 会場 : |
メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
セミナールーム 東京都品川区北品川4-7-35 御殿山トラストタワー20F 案内図 |
| ＜ご注意＞定員になり次第申込みを締切らせていただきます。 また弊社が競合、異業種と判断した企業およびその代理店の方、法人格を持たない個人の方、対象外と判断した方については、フォーラムへの登録、参加、フォーラム会場への立入りをお断りする場合がございます。あらかじめご了承ください。 | |
概要:
今日の自動車には多数の電気／電子（E/E）システムが統合される形で搭載されるようになり、その安全性の担保が求められています。その解が、機能安全性の確保であり、ISO26262への対応はもはや必須と言って過言ではないでしょう。
そこで今回のMentor Forumでは、メンターが提供する機能安全ソリューション、Mentor Safeをテーマといたしました。Mentor Safeは、ICデジタル検証、アナログ検証、さらには物理検証までISO26262の第三者認証を受けたツール群、さらにコンサルティングを提供するものです。本フォーラムでは、業界唯一のアナログFault simulatorやデジタル検証（フォーマル検証）によるソリューションをご紹介いたします。皆様のご参加をお待ちいたしております。
プログラム:
| 13:00- | 受付開始 |
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13:30
- 14:30 |
「MentorSafe : メンターによるISO26262機能安全ソリューションUpdateとFault Simulation（Digital IC）に関する新規ソリューション」
概要 メンター では、IC設計やSW開発における機能安全への取り組みを「Mentor Safe」というラインアップとして用意し、その拡充に努めております。特に自動車産業でのISO26262に関しては、その活動の一環として、第三者認証機関ドイツSGS-TUV Saarから各ツールの認証を取得しています。本セッションでは、Mentor Safeの現在の状況、方向性をご紹介します。 また、シーメンスによるAustemper Design Systemsの買収に伴い、メンターの検証製品との統合が計画されています。Austemper Design Systemsの持つFault Simulationテクノロジとメンターの検証製品との統合によるロードマップついてもご紹介します。
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14:30
- 15:15 |
SW設計/検証 AUTOSARとそのシミュレーション環境
概要 Volcano VSTAR（Basic Software）はAUTOSAR 4.2に準拠し、ISO2626 ASIL Dをターゲットとしています。AUTOSAR 4.2はマルチコアをサポートしていることから、今まで以上にアプリケーションSWの開発、デバッグが困難となります。SW設計においてはパーティショニング、検証においてはRacing conditionなどがマルチコア特有の課題です。 本セッションでは、ASIL DをターゲットとするVolcano VSTARとその設計ソリューション、またシミュレーション環境Volcano VSIによる実機では再現が困難なRacing Conditionの検証機能をご紹介します。 |
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15:15
- 15:30 |
休憩 |
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15:30
- 16:45 |
FaultSimulation （Analog IC検証）: 業界をリードするAnalog FaultSimulation DefectSimの最新情報
概要 ICのテスト品質は、一般的に故障検出率によって定量化されます。デジタル回路の故障検出率測定は、以前から確立され、完全自動化されていますが、アナログ／ミックスシグナル（AMS）回路のテストカバレッジを測定する手法はいまだ確立されておらず、故障検出率の標準化に向けての議論がようやく煮詰まりつつある、という段階です。 本セッションでは、このAMS回路の故障検出率測定手法の確立のためのキーテクノロジであるAnalog Fault Simulatorの最新情報をご紹介いたします。 |
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16:45
- 17:00 |
SPFM/LFM 対応： RTL設計における故障検出率向上
概要 ランダム故障に対応するためのSPFM（Single Point Fault Metric）やLFM（Latent Fault Metric）に要求される故障検出率の計測は、ICのサイズに伴い非常に困難になり、故障検出率の計測をダイナミックシミュレーションだけに頼るのは非現実的なものとなりつつあります。 本セッションでは、Continental社により実証済みのフォーマル検証技術によるRTLレベル故障検出率の計測技術をご紹介します。 |
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17:00
- 17:45 |
自己診断：POST（Power on SelfTest）/IST（In System Test）手法
概要 機能安全、さらに自動運転などの開発ロードマップの中で、車載半導体が受け持つ役割が多様化・大規模化の一途を辿っており、車載半導体設計開発におけるテスト設計・テスト戦略はこれまでより一段と重要な位置を占めてきています。 チップパッケージの出荷時は、これまでよりもさらに高いテスト品質で出荷テストを実行し、フィールドリターンを最小限にすることと同時に、チップが実車に搭載された後も電源投入時、さらには走行中のチップアイドル時間の隙を見つけて自己診断を行うなど、これまでのDFT（Design-For-Testability）でカバーしきれない要件を考慮して回路、システムインプリする必要性が高まっております。 本セッションでは、上記車載半導体に求められるテスト要件、すなわち高品質の出荷テストと出荷後のフィールドテスト、さらに不良発生時の高精度解析技術までをカバーするテストソリューションをご紹介します。 |
| ※プログラム内容は予告なく変更になる場合がございます。あらかじめご了承ください。 | |
受講料:
主催:
申込み方法:
・ お申込み終了後、ご記入いただいたEmailアドレスまで受講票を送信します。
フォーラム開催当日は、プリントアウトした受講票とお名刺2枚をお持ちください。
ご注意:
・ 弊社が競合、異業種と判断した企業およびその代理店の方、法人格を持たない個人の方、対象外と判断した方に
ついては、フォーラムへの登録、参加、フォーラム会場への立入りをお断りする場合がございます。
あらかじめご了承ください。
・ ご所属企業の連絡先でご登録ください。
（フリーメールアドレス、携帯電話アドレスでの登録は受け付けておりません）
・ お申込みのキャンセルはこちらからお願いします。
フォーラム内容に関するお問い合わせ先:
・ コーポレートマーケティング部
Email: mgj_seminar@mentor.com
TEL: 03-5488-3035
